Produkty
-
YYP118A Pojedynczy kątowy miernik połysku 60°
Mierniki połysku stosowane są głównie do pomiaru połysku powierzchni farb, tworzyw sztucznych, metalu, ceramiki, materiałów budowlanych i tak dalej. Nasz miernik połysku jest zgodny z normami DIN 67530, ISO 2813, ASTM D 523, JIS Z8741, BS 3900 Part D5, JJG696 i tak dalej.
-
Tester udarności YYP-JC Charpy'ego
Standard techniczny
Produkt spełnia wymagania urządzeń badawczych dla norm ENISO179, GB/T1043, ISO9854, GB/T18743 i DIN53453, ASTM D 6110.
-
(Chiny) Tester kompresji YYP123B
- Wprowadzenie produktu:
Tester kompresji pudełek YYP123B to profesjonalna maszyna testująca służąca do testowania wytrzymałości kartonów na ściskanie, odpowiednia do kartonów z tektury falistej, pudełek o strukturze plastra miodu i innych opakowań
pudełka. I nadaje się do wiader plastikowych (olej jadalny, woda mineralna), wiader papierowych, pudełek papierowych,
puszek papierowych, wiader kontenerowych (wiader IBC) i innych pojemników próba ściskania.
-
Uchwyt na próbki YYP113-5 RCT
Wprowadzenie produktu:
Produkt składa się z podstawy próbki i dziesięciu różnych specyfikacji rozmiarów płytki środkowej,
nadaje się do próbki o grubości (0,1 ~ 0,58) mm, łącznie 10 specyfikacji, z różnymi
płytki środkowe, można dostosować do różnej grubości próbki. Szeroko stosowany w papiernictwie, pakowaniu
oraz nadzór i kontrola jakości produktów w branżach i działach. To coś specjalnego
przyrząd do badania wytrzymałości na ściskanie pierścienia papieru i tektury.
-
YYP113-4 Oprawa PAT
Wprowadzenie produktu:
Urządzenie PAT służy głównie do badania siły wiązania tektury falistej.
-
Obcinarka do próbek YYP113-3 FCT
Wprowadzenie:
Przecinak do próbek FCT to specjalny próbnik niezbędny do badania wytrzymałości na docisk płaski
(FCT) z tektury falistej 8, za pomocą której można szybko i dokładnie wyciąć próbkę z tektury falistej
określony obszar. Jest idealnym urządzeniem pomocniczym do tektury falistej i kartonu
producentów, badań naukowych oraz działów nadzoru i kontroli jakości.
-
Obcinarka do próbek YYP113-2 ECT
I.ProduktIwprowadzenie:
Próbnik nacisku krawędzi (adhezji) jest używany głównie do pomiaru krawędzi
próba ciśnieniowa i pobieranie próbek do testu przyczepności, szybkie i dokładne cięcie
określony rozmiar próbki, to tektura falista i karton
produkcji, badań naukowych oraz nadzoru i kontroli jakości
działy idealnego pomocniczego sprzętu testowego.
-
Obcinarka do próbek YYP113-1 RCT
Wprowadzenie produktu:
Próbnik ciśnienia pierścienia nadaje się do cięcia próbki wymaganej do określenia wytrzymałości na nacisk pierścienia papierowego.
Jest to specjalny próbnik niezbędny do badania wytrzymałości na nacisk pierścienia papierowego (RCT) i idealna pomoc testowa
do produkcji papieru, pakowania, badań naukowych, kontroli jakości i innych gałęzi przemysłu oraz
działy.
-
Tester zgniatania YYP113
Funkcja produktu:
1. Określ wytrzymałość na ściskanie pierścienia (RCT) tektury falistej
2. Pomiar wytrzymałości na ściskanie krawędzi tektury falistej (ECT)
3. Wyznaczanie wytrzymałości na ściskanie płaskie tektury falistej (FCT)
4. Określ siłę wiązania tektury falistej (PAT)
5. Określ wytrzymałość na ściskanie płaskie (CMT) tektury falistej
6. Określ wytrzymałość krawędzi na ściskanie (CCT) tektury falistej
-
YYP10000-1 Tester zagnieceń i sztywności Nóż do próbek
Krajarka do próbek zagnieceń i sztywności nadaje się do cięcia próbek wymaganych do badania zagnieceń i sztywności, takich jak papier, tektura i cienki arkusz.
-
(Chiny) YYP 10000 Tester zagnieceń i sztywności
Standard
GB/T 23144，
GB/T 22364，
ISO5628，
ISO2493
-
Spektrofotometr stołowy YY820P
Wstęp
Jest to inteligentny, prosty w obsłudze i bardzo precyzyjny spektrofotometr. Przyjmuje 7-calowy ekran dotykowy, pełny zakres długości fal i system operacyjny Android. Oświetlenie: współczynnik odbicia D/8° i przepuszczalność D/0° (w tym UV / bez UV), wysoka dokładność pomiaru koloru, duża pamięć, oprogramowanie komputerowe, ze względu na powyższe zalety jest używane w laboratorium do analizy kolorów i komunikacji.
Zalety instrumentu
1). Przyjmuje geometrię współczynnika odbicia D/8° i przepuszczalności D/0° do pomiaru zarówno materiałów nieprzezroczystych, jak i przezroczystych.
2). Technologia analizy widma z podwójną ścieżką optyczną
Technologia ta umożliwia jednoczesny dostęp zarówno do pomiarów, jak i do wewnętrznych danych referencyjnych środowiska instrumentu, aby zapewnić dokładność instrumentu i długoterminową stabilność.